Choose the experimental features you want to try

This document is an excerpt from the EUR-Lex website

Document 32018R1922R(04)

    2018 m. spalio 10 d. Komisijos deleguotojo reglamento (ES) 2018/1922, kuriuo iš dalies keičiamas Tarybos reglamentas (EB) Nr. 428/2009, nustatantis Bendrijos dvejopo naudojimo prekių eksporto, persiuntimo, susijusių tarpininkavimo paslaugų ir tranzito kontrolės režimą, klaidų ištaisymas (OL L 319, 2018 12 14)

    OL L 105, 2019 4 16, p. 67–67 (BG, ES, CS, DA, DE, ET, EL, EN, FR, HR, IT, LV, LT, HU, MT, NL, PL, PT, RO, SK, SL, FI, SV)

    ELI: http://data.europa.eu/eli/reg_del/2018/1922/corrigendum/2019-04-16/oj

    16.4.2019   

    LT

    Europos Sąjungos oficialusis leidinys

    L 105/67


    2018 m. spalio 10 d. Komisijos deleguotojo reglamento (ES) 2018/1922, kuriuo iš dalies keičiamas Tarybos reglamentas (EB) Nr. 428/2009, nustatantis Bendrijos dvejopo naudojimo prekių eksporto, persiuntimo, susijusių tarpininkavimo paslaugų ir tranzito kontrolės režimą, klaidų ištaisymas

    ( Europos Sąjungos oficialusis leidinys L 319, 2018 m. gruodžio 14 d. )

    129 puslapis, 3B001.f. 3 ir 4 punktai: taisomas punktų išdėstymas.

    yra:

    „3.

    įranga, specialiai suprojektuota kaukėms, turinti visas šias charakteristikas:

    a.

    naudojanti kreipiamąjį sufokusuotą elektronų pluoštą, jonų pluoštą ar „lazerio“ pluoštą ir

    b.

    turinti bet kurią iš šių charakteristikų:

    1.

    spektrinio juostos puspločio (FWHM) dėmės matmenis, mažesnius nei 65 μm ir vaizdo įkėlimą, mažesnį nei 17 nm (vidutinė vertė + 3 sigma), arba

    2.

    nenaudojama;

    3.

    mažesnę nei 23 nm (vidutinė vertė + 3 sigma) antrojo sluoksnio kaukės tapatinimo paklaidą;

    4.

    įranga, suprojektuota įtaisams apdoroti naudojant tiesioginio įrašymo metodus, turinti visas šias charakteristikas:

    a.

    kreipiamąjį sufokusuotą elektronų pluoštą ir

    b.

    turinti bet kurią iš šių charakteristikų:

    1.

    15 nm arba mažesnį minimalų pluošto dydį arba

    2.

    mažesnę nei 27 nm (vidutinė vertė + 3 sigma) kaukės tapatinimo paklaidą;“

    turi būti:

    „3.

    įranga, specialiai suprojektuota kaukėms, turinti visas šias charakteristikas:

    a.

    naudojanti kreipiamąjį sufokusuotą elektronų pluoštą, jonų pluoštą ar „lazerio“ pluoštą ir

    b.

    turinti bet kurią iš šių charakteristikų:

    1.

    spektrinio juostos puspločio (FWHM) dėmės matmenis, mažesnius nei 65 μm ir vaizdo įkėlimą, mažesnį nei 17 nm (vidutinė vertė + 3 sigma), arba

    2.

    nenaudojama;

    3.

    mažesnę nei 23 nm (vidutinė vertė + 3 sigma) antrojo sluoksnio kaukės tapatinimo paklaidą;

    4.

    įranga, suprojektuota įtaisams apdoroti naudojant tiesioginio įrašymo metodus, turinti visas šias charakteristikas:

    a.

    kreipiamąjį sufokusuotą elektronų pluoštą ir

    b.

    turinti bet kurią iš šių charakteristikų:

    1.

    15 nm arba mažesnį minimalų pluošto dydį arba

    2.

    mažesnę nei 27 nm (vidutinė vertė + 3 sigma) kaukės tapatinimo paklaidą;“


    Top