Retificação do Regulamento Delegado (UE) 2018/1922 da Comissão, de 10 de outubro de 2018, que altera o Regulamento (CE) n.o 428/2009 do Conselho que cria um regime comunitário de controlo das exportações, transferências, corretagem e trânsito de produtos de dupla utilização

( «Jornal Oficial da União Europeia» L 319 de 14 de dezembro de 2018 )

Na página 129, na entrada 3B001.f., o alinhamento dos pontos 3 e 4 é alterado do seguinte modo:

onde se lê:

«3.

Equipamentos especialmente concebidos para a realização de máscaras com todas as seguintes características:

a.	Feixes de eletrões, iões ou “laser” focados e refletidos; e

Com qualquer das seguintes características:

1.	Dimensão do ponto a partir da largura total a meia altura (FWHM) inferior a 65 nm e posicionamento da imagem inferior a 17 nm (média + 3 sigma); ou

2.	Não utilizado;

3.	Erro no recobrimento da segunda camada inferior a 23 nm (média + 3 sigma) na máscara;

Equipamentos concebidos para o tratamento de dispositivos por métodos de escrita direta, com todas as seguintes características:

a.	Feixe de eletrões focado e refletido; e

Com qualquer das seguintes características:

1.	Dimensão mínima do feixe igual ou inferior a 15 nm; ou

2.	Erro no recobrimento inferior a 27 nm (média + 3 sigma);»,

deve ler-se:

«3.

Equipamentos especialmente concebidos para a realização de máscaras com todas as seguintes características:

a.	Feixes de eletrões, iões ou “laser” focados e refletidos; e

Com qualquer das seguintes características:

1.	Dimensão do ponto a partir da largura total a meia altura (FWHM) inferior a 65 nm e posicionamento da imagem inferior a 17 nm (média + 3 sigma); ou

2.	Não utilizado;

3.	Erro no recobrimento da segunda camada inferior a 23 nm (média + 3 sigma) na máscara;

Equipamentos concebidos para o tratamento de dispositivos por métodos de escrita direta, com todas as seguintes características:

a.	Feixe de eletrões focado e refletido; e

Com qualquer das seguintes características:

1.	Dimensão mínima do feixe igual ou inferior a 15 nm; ou

2.	Erro no recobrimento inferior a 27 nm (média + 3 sigma);».