Поправка на Делегиран регламент (ЕС) 2018/1922 на Комисията от 10 октомври 2018 година за изменение на Регламент (ЕО) № 428/2009 на Съвета за въвеждане режим на Общността за контрол на износа, трансфера, брокерската дейност и транзита на изделия и технологии с двойна употреба

( Официален вестник на Европейския съюз L 319 от 14 декември 2018 година )

На стр. 129 под вписване 3B001.f. подравняването на точки 3 и 4 се променя, както следва:

вместо:

„3.

Оборудване, специално проектирано за изработване на маски, притежаващо всички изброени по-долу характеристики:

a.	Отклонен фокусиран електронен лъч, йонен лъч или ”лазерен” лъч; и

С която и да е от следните характеристики:

1.	Размер на пълната широчина на светлинното петно при половината от максимума (full-width half-maximum — FWHM) под 65 nm и позициониране на изображението под 17 nm (средна стойност + 3 sigma); или

2.	Не се използва;

3.	Отклонение в покритието при втория слой на маската под 23 nm (средна стойност + 3 сигма);

Оборудване, проектирано за обработка на устройства, използващо методи за директен печат и имащо всички изброени по-долу характеристики:

a.	Отклонен фокусиран електронен лъч; и

С която и да е от следните характеристики:

1.	Минимален размер на светлинния лъч, равен или по-малък от 15 μm; или

2.	Отклонение в покритието под 27 nm (средна стойност + 3 сигма);“

да се чете:

„3.

a.	Отклонен фокусиран електронен лъч, йонен лъч или ”лазерен” лъч; и

С която и да е от следните характеристики:

1.	Размер на пълната широчина на светлинното петно при половината от максимума (full-width half-maximum — FWHM) под 65 nm и позициониране на изображението под 17 nm (средна стойност + 3 sigma); или

2.	Не се използва;

3.	Отклонение в покритието при втория слой на маската под 23 nm (средна стойност + 3 сигма);

a.	Отклонен фокусиран електронен лъч; и

С която и да е от следните характеристики:

1.	Минимален размер на светлинния лъч, равен или по-малък от 15 μm; или

2.	Отклонение в покритието под 27 nm (средна стойност + 3 сигма);“