Access to European Union law
<a href="https://eur-lex.europa.eu/content/help/eurlex-content/experimental-features.html" target="_blank">More about the experimental features corner</a>
Choose the experimental features you want to try
EUR-Lex
Access to European Union law

This document is an excerpt from the EUR-Lex website

You are here
Use quotation marks to search for an "exact phrase". Append an asterisk (*) to a search term to find variations of it (transp*, 32019R*). Use a question mark (?) instead of a single character in your search term to find variations of it (ca?e finds case, cane, care).
Search tips
Need more search options? Use the Advanced search

Document 32018R1922R(04)

    Oprava nařízení Komise v přenesené pravomoci (EU) 2018/1922 ze dne 10. října 2018, kterým se mění nařízení Rady (ES) č. 428/2009, kterým se zavádí režim Společenství pro kontrolu vývozu, přepravy, zprostředkování a tranzitu zboží dvojího užití (Úř. věst. L 319, 14.12.2018)

    Úř. věst. L 105, 16.4.2019, p. 67–67 (BG, ES, CS, DA, DE, ET, EL, EN, FR, HR, IT, LV, LT, HU, MT, NL, PL, PT, RO, SK, SL, FI, SV)

    ELI: http://data.europa.eu/eli/reg_del/2018/1922/corrigendum/2019-04-16/oj

    16.4.2019   

    CS

    Úřední věstník Evropské unie

    L 105/67

    Oprava nařízení Komise v přenesené pravomoci (EU) 2018/1922 ze dne 10. října 2018, kterým se mění nařízení Rady (ES) č. 428/2009, kterým se zavádí režim Společenství pro kontrolu vývozu, přepravy, zprostředkování a tranzitu zboží dvojího užití

    ( Úřední věstník Evropské unie L 319 ze dne 14. prosince 2018 )

    Strana 129, položka 3B001.f., body 3 a 4: opravuje se zarovnání bodů:

    místo:

    „3.

    Zařízení speciálně konstruovaná pro výrobu masek, která mají všechny tyto vlastnosti:

    a.

    využívají vychylovaného zaostřeného elektronového paprsku, iontového paprsku nebo „laserového“ paprsku; a

    b.

    mají některou z těchto vlastností:

    1.

    stopa paprsku o šířce v polovině maxima (full-width at half maximum (FWHM)) menší než 65 nm a umístění obrazu menší než 17 nm (střed + 3 sigma); nebo

    2.

    nevyužito;

    3.

    chyba překrytí masky druhou vrstvou menší než 23 nm (střed + 3 sigma);

    4.

    zařízení konstruovaná pro zpracování součástek za použití metod přímého zápisu, která mají všechny tyto vlastnosti:

    a.

    mají vychylovaný zaostřený elektronový paprsek; a

    b.

    mají některou z těchto vlastností:

    1.

    minimální velikost paprsku nejvýše 15 nm; nebo

    2.

    chyba překrytí menší než 27 nm (střední hodnota + 3 sigma);“,

    má být:

    „3.

    Zařízení speciálně konstruovaná pro výrobu masek, která mají všechny tyto vlastnosti:

    a.

    využívají vychylovaného zaostřeného elektronového paprsku, iontového paprsku nebo „laserového“ paprsku; a

    b.

    mají některou z těchto vlastností:

    1.

    stopa paprsku o šířce v polovině maxima (full-width at half maximum (FWHM)) menší než 65 nm a umístění obrazu menší než 17 nm (střed + 3 sigma); nebo

    2.

    nevyužito;

    3.

    chyba překrytí masky druhou vrstvou menší než 23 nm (střed + 3 sigma);

    4.

    zařízení konstruovaná pro zpracování součástek za použití metod přímého zápisu, která mají všechny tyto vlastnosti:

    a.

    mají vychylovaný zaostřený elektronový paprsek; a

    b.

    mají některou z těchto vlastností:

    1.

    minimální velikost paprsku nejvýše 15 nm; nebo

    2.

    chyba překrytí menší než 27 nm (střední hodnota + 3 sigma);“.
    Top