Access to European Union law
<a href="https://eur-lex.europa.eu/content/help/eurlex-content/experimental-features.html" target="_blank">More about the experimental features corner</a>
Choose the experimental features you want to try
EUR-Lex
Access to European Union law

This document is an excerpt from the EUR-Lex website

You are here
Use quotation marks to search for an "exact phrase". Append an asterisk (*) to a search term to find variations of it (transp*, 32019R*). Use a question mark (?) instead of a single character in your search term to find variations of it (ca?e finds case, cane, care).
Search tips
Need more search options? Use the Advanced search

Document 32018R1922R(03)

Popravek Delegirane uredbe Komisije (EU) 2018/1922 z dne 10. oktobra 2018 o spremembi Uredbe Sveta (ES) št. 428/2009 o vzpostavitvi režima Skupnosti za nadzor izvoza, prenosa, posredovanja in tranzita blaga z dvojno rabo (UL L 319, 14.12.2018)

UL L 103, 12.4.2019, pp. 60–60 (BG, ES, CS, DA, DE, ET, EL, EN, FR, HR, IT, LV, LT, HU, MT, NL, PL, PT, RO, SK, SL, FI, SV)

ELI: http://data.europa.eu/eli/reg_del/2018/1922/corrigendum/2019-04-12/oj

12.4.2019   

SL

Uradni list Evropske unije

L 103/60

Popravek Delegirane uredbe Komisije (EU) 2018/1922 z dne 10. oktobra 2018 o spremembi Uredbe Sveta (ES) št. 428/2009 o vzpostavitvi režima Skupnosti za nadzor izvoza, prenosa, posredovanja in tranzita blaga z dvojno rabo

( Uradni list Evropske unije L 319 z dne 14. decembra 2018 )

Stran 129, oznaka 3B001.f, točki 3 in 4, popravi se poravnava točk:

besedilo:

„3.

 oprema, izdelana posebej za obdelavo naprav za izdelavo mask, ki ima obe naslednji značilnosti:

a.

elektronski žarek z odklonjenim fokusom, ionski ali ‚laserski‘ žarek in

b.

ima katero koli od naslednjih značilnosti:

1.

polovična vrednost širine (FWHM) točke, manjša od 65 nm in postavitev slike, manjša od 17 nm (srednja vrednost + 3 sigme), ali

2.

se ne uporablja;

3.

napaka pri prekrivanju druge plasti, manjša od 23 nm (srednja vrednost + 3 sigme) na maski;

4.

oprema, ki je zasnovana za obdelavo s pomočjo neposrednih metod zapisa in ima obe naslednji značilnosti:

a.

elektronski žarek z odklonjenim fokusom in

b.

ima katero koli od naslednjih značilnosti:

1.

najmanjša širina žarka je enaka ali manjša od 15 nm ali

2.

napaka pri prekrivanju plasti, manjša od 27 nm (srednja vrednost + 3 sigme);“

se glasi:

„3.

 oprema, izdelana posebej za obdelavo naprav za izdelavo mask, ki ima obe naslednji značilnosti:

a.

elektronski žarek z odklonjenim fokusom, ionski ali ‚laserski‘ žarek in

b.

ima katero koli od naslednjih značilnosti:

1.

polovična vrednost širine (FWHM) točke, manjša od 65 nm in postavitev slike, manjša od 17 nm (srednja vrednost + 3 sigme), ali

2.

se ne uporablja;

3.

napaka pri prekrivanju druge plasti, manjša od 23 nm (srednja vrednost + 3 sigme) na maski;

4.

oprema, ki je zasnovana za obdelavo s pomočjo neposrednih metod zapisa in ima obe naslednji značilnosti:

a.

elektronski žarek z odklonjenim fokusom in

b.

ima katero koli od naslednjih značilnosti:

1.

najmanjša širina žarka je enaka ali manjša od 15 nm ali

2.

napaka pri prekrivanju plasti, manjša od 27 nm (srednja vrednost + 3 sigme);“.
Top