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Document 31993R3080

    REGLAMENTO (CE) Nº 3080/93 DEL CONSEJO de 5 de noviembre de 1993 por el que se modifica el Reglamento (CEE) nº 2658/87 relativo a la nomenclatura arancelaria y estadística y al arancel aduanero común

    DO L 277 de 10.11.1993, p. 1–2 (ES, DA, DE, EL, EN, FR, IT, NL, PT)

    Legal status of the document No longer in force, Date of end of validity: 01/01/1995; derog. impl. por 394R3115

    ELI: http://data.europa.eu/eli/reg/1993/3080/oj

    31993R3080

    REGLAMENTO (CE) Nº 3080/93 DEL CONSEJO de 5 de noviembre de 1993 por el que se modifica el Reglamento (CEE) nº 2658/87 relativo a la nomenclatura arancelaria y estadística y al arancel aduanero común

    Diario Oficial n° L 277 de 10/11/1993 p. 0001 - 0002


    REGLAMENTO (CE) No 3080/93 DEL CONSEJO de 5 de noviembre de 1993 por el que se modifica el Reglamento (CEE) no 2658/87 relativo a la nomenclatura arancelaria y estadística y al arancel aduanero común

    EL CONSEJO DE LAS COMUNIDADES EUROPEAS,

    Visto el Tratado constitutivo de la Comunidad Europea y, en particular, su artículo 28,

    Vista la propuesta de la Comisión,

    Considerando que el Reglamento (CEE) no 2658/87 (1) estableció, sobre la base del sistema armonizado, una nomenclatura de mercancías denominada la nomenclatura combinada;

    Considerando que el Reglamento (CEE) no 4142/87 de la Comisión (2) determina las condiciones de admisión de determinadas mercancías a los beneficios de un régimen arancelario de importación favorable, en razón de su destino especial;

    Considerando que las mercancías a las que se aplican las disposiciones de destino especial gozan, en el momento de ser despachadas a libre práctica, de un tipo de derecho reducido o nulo únicamente cuando estén destinadas a un fin especial;

    Considerando que conviene que determinados tipos de equipo de prueba para circuitos integrados gocen de exención de derechos de aduana de importación en virtud de las disposiciones de destino especial cuando se utilicen para la prueba de funcionalidad de circuitos integrados; que procede introducir en la nomenclatura combinada subpartidas con disposiciones de destino especial en el contexto del código SA 9030 81 para estos productos;

    Considerando que, por lo tanto, se debería modificar la nomenclatura combinada,

    HA ADOPTADO EL PRESENTE REGLAMENTO:

    Artículo 1

    1. Quedará modificada, con arreglo a lo dispuesto en el Anexo del presente Reglamento, la nomenclatura combinada aneja al Reglamento (CEE) no 2658/87.

    2. Las modificaciones de las subpartidas de la nomenclatura combinada establecidas en el presente Reglamento se aplicarán como subpartidas del Taric hasta su inclusión en la nomenclatura combinada según las condiciones establecidas en el artículo 12 del Reglamento (CEE) no 2658/87.

    Artículo 2

    El presente Reglamento entrará en vigor el vigesimoprimer día siguiente al de su publicación en el Diario Oficial de las Comunidades Europeas.

    El presente Reglamento será obligatorio en todos sus elementos y directamente aplicable en cada Estado miembro.

    Hecho en Bruselas, el 5 de noviembre de 1993.

    Por el Consejo

    El Presidente

    E. TOMAS

    (1) DO no L 256 de 7. 9. 1987, p. 1; Reglamento cuya última modificación la constituye el Reglamento (CEE) no 2551/93 (DO no L 241 de 27. 9. 1993, p. 1).

    (2) DO no L 387 de 31. 12. 1987, p. 81; Reglamento cuya última modificación la constituye el Reglamento (CEE) no 1419/91 (DO no L 135 de 30. 5. 1991, p. 30).

    ANEXO

    "" ID="01">9030 10 a 9030 81 10> ID="02">(Sin modificar)"> ID="01">9030 81 20> ID="02"> Aparatos de prueba para la producción de semiconductores de conexión lateral capaces de verificar las funciones intercaladas de circuitos integrados (2) > ID="03">16 (3) > ID="04">11> ID="05">-"> ID="02"> Los demás:"> ID="01">9030 81 81> ID="02"> Aparatos de prueba para la producción de semiconductores capaces de verificar las funciones intercaladas de circuitos integrados digitales (2) > ID="03">16 (3) > ID="04">11> ID="05">-"> ID="01">9030 81 83> ID="02"> Aparatos de prueba para la producción de semiconductores capaces de verificar las funciones intercaladas de circuitos integrados análogos/digitales (2) > ID="03">16 (3) > ID="04">11> ID="05">-"> ID="01">9030 81 85> ID="02"> Aparatos de prueba para la producción de semiconductores destinados a probar las funciones intercaladas de circuitos integrados análogos (2) > ID="03">16 (3) > ID="04">11> ID="05">-"> ID="01">9030 81 89> ID="02"> Los demás> ID="03">16 > ID="04">11> ID="05">-"> ID="01">9030 89 a 9030 90 90> ID="02">(Sin modificar) "">

    (2) La inclusión en esta subpartida está supeditada a las condiciones establecidas en las disposiciones pertinentes de la Comunidad.

    (3) La percepción de este derecho queda suspendida hasta el 31 diciembre de 1994.

    Códigos Taric para 1993 y 1994: 9030 81 90*10

    9030 81 90*20

    9030 81 90*30

    9030 81 90*40

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