Back to EUR-Lex homepage

EUR-Lex Access to European Union law

Back to EUR-Lex homepage

This document is an excerpt from the EUR-Lex website

Use quotation marks to search for an "exact phrase". Append an asterisk (*) to a search term to find variations of it (transp*, 32019R*). Use a question mark (?) instead of a single character in your search term to find variations of it (ca?e finds case, cane, care).
Search tips
Need more search options? Use the Advanced search
You are here

Document 32018R1922R(03)

Rectificare la Regulamentul delegat (UE) 2018/1922 al Comisiei din 10 octombrie 2018 de modificare a Regulamentului (CE) nr. 428/2009 al Consiliului de instituire a unui regim comunitar pentru controlul exporturilor, transferului, serviciilor de intermediere și tranzitului de produse cu dublă utilizare (JO L 319, 14.12.2018)

OJ L 103, 12.4.2019, p. 60–60 (BG, ES, CS, DA, DE, ET, EL, EN, FR, HR, IT, LV, LT, HU, MT, NL, PL, PT, RO, SK, SL, FI, SV)

ELI: http://data.europa.eu/eli/reg_del/2018/1922/corrigendum/2019-04-12/oj

12.4.2019   

RO

Jurnalul Oficial al Uniunii Europene

L 103/60

Rectificare la Regulamentul delegat (UE) 2018/1922 al Comisiei din 10 octombrie 2018 de modificare a Regulamentului (CE) nr. 428/2009 al Consiliului de instituire a unui regim comunitar pentru controlul exporturilor, transferului, serviciilor de intermediere și tranzitului de produse cu dublă utilizare

( Jurnalul Oficial al Uniunii Europene L 319 din 14 decembrie 2018 )

La pagina 129, la secțiunea 3B001 litera f, la punctele 3 și 4, se corectează alinierea punctelor:

în loc de:

„3.

 echipamente special concepute pentru executarea măștilor care au toate caracteristicile următoare:

a.

un fascicul de electroni, de ioni sau «laser» focalizat deflectat; și

b.

care prezintă oricare dintre următoarele caracteristici:

1.

O dimensiune a spotului mai mică de 65 nm la lățimea integrală la jumătatea înălțimii maxime (FWHM) și o plasare a imaginii mai mică de 17 nm (medie aritmetică + 3 sigma); sau

2.

neutilizate;

3.

o eroare de suprapunere la nivelul celui de-al doilea strat mai mică de 23 nm (medie + 3 sigma) pe mască;

4.

echipamente concepute pentru prelucrarea dispozitivelor care utilizează metode directe de scriere și care au toate caracteristicile următoare:

a.

un fascicul de electroni focalizat deflectat; și

b.

care prezintă oricare dintre următoarele caracteristici:

1.

o dimensiune minimă a fasciculului mai mică sau egală cu 15 nm; sau

2.

o eroare de suprapunere mai mică de 27 nm (medie + 3 sigma);”,

se citește:

„3.

 echipamente special concepute pentru executarea măștilor care au toate caracteristicile următoare:

a.

un fascicul de electroni, de ioni sau «laser» focalizat deflectat; și

b.

care prezintă oricare dintre următoarele caracteristici:

1.

O dimensiune a spotului mai mică de 65 nm la lățimea integrală la jumătatea înălțimii maxime (FWHM) și o plasare a imaginii mai mică de 17 nm (medie aritmetică + 3 sigma); sau

2.

neutilizate;

3.

o eroare de suprapunere la nivelul celui de-al doilea strat mai mică de 23 nm (medie + 3 sigma) pe mască;

4.

echipamente concepute pentru prelucrarea dispozitivelor care utilizează metode directe de scriere și care au toate caracteristicile următoare:

a.

un fascicul de electroni focalizat deflectat; și

b.

care prezintă oricare dintre următoarele caracteristici:

1.

o dimensiune minimă a fasciculului mai mică sau egală cu 15 nm; sau

2.

o eroare de suprapunere mai mică de 27 nm (medie + 3 sigma);”.
Top